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電子顯微鏡
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電子顯微鏡類 Electron Microscope
高解析度場發射掃描電子顯微鏡暨能量散佈分析儀 SEM S-4700I
#交大校區，High-Resolution Scanning Electron Microscope & Energy Dispersive Spectrometer，依奈米中心管理使用辦法與預約系統，收費使用，儀器位置：電資大樓710室
電子束晶圓缺陷檢測設備 eScan310
#交大校區，E-beam inspection tool，僅開放委託操作，收費使用，儀器位置：科學三館 SC030 室
超高解析熱場發射式掃描式電子顯微鏡 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
#陽明校區，JEOL JSM-7600F，收費使用，使用資格請洽儀器負責人；管理單位：解剖所 鄭瓊娟老師，管理人員：電顯室 余玉英技士與何淑儷技士；儀器位置：實驗大樓2F B105室
穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) JEM-2000EX II
#陽明校區，代管儀器，收費使用，JEM-2000EX II；使用資格請洽儀器負責人；管理單位：解剖所 鄭瓊娟老師，管理人員：電顯室 余玉英技士與何淑儷技士；儀器位置：實驗大樓2F B115室
穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) JEM-1400plus
#陽明校區，代管儀器，收費使用，JEM-1400plus；使用資格請洽儀器負責人；管理單位：解剖所 鄭瓊娟老師，管理人員：電顯室 余玉英技士與何淑儷技士；儀器位置：實驗大樓2F B104室
掃描電子顯微鏡與電子束微影系統 SEM and EBL
#交大校區，Scanning electron microscope and E-beam lithography，收費使用，儀器位置：科學三館SC009室
場發射掃描式電子顯微鏡 FE-SEM
#交大校區，Field Emission Scanning Electron Microscope，
廠牌型號：JEOL, JSM-6700F
收費使用，儀器位置：工程六館103室
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