fe-tem

國科會基礎研究核心設施 | 材料領域

場發射穿透式電子顯微鏡

  • Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)
    廠牌型號:JOEL, JEM-F200
  • 儀器專家:吳文偉 教授
    分機 55395
  • 儀器諮詢與操作服務:歐大正 先生
    分機 55371
    信箱 tem55371@nycu.edu.tw
  • 儀器位置:工程六館108室

儀器廠牌、型號、購置年限
廠牌:JEOL
型號:JEM-F200
購置年限:五年,2016/12/1購置

重要規格
電子槍:ZrO/W(100) Schottky type
最大加速電壓:200kV
放大倍率:x50~x2M
Point resolution:<=0.23nm
Lattice resolution:<=0.1nm
最大傾轉角度:+35~-35度

服務項目
TEM:材料試片之微細組織,晶體結構之缺陷觀察,擇區繞射定結晶結構。

儀器訓練操作申請須知
1. 申請人需為博士班學生且已通過JEOL2000FX TEM之考核。
2. 申請順序依通過JEOL2000FX TEM之考核日期為先後順序。
3. 訓練時間TEM需要6個時段。訓練結束之後可向技術員預約時間練習並考照。
4. 通過考核後可自行操作;未通過考核之前除技術員或助教在旁協助,嚴禁自行操作。

儀器操作預約:請至國科會基礎研究核心設施預約服務管理系統預約﹝enter

開放時間表

時間上午中午晚上
週一08:30至12:00(校外委託>13:30至17:00(訓練)(A執照者)
週二08:30至12:00(校外委託13:30至17:00(校內委託(機台訓練)
週三08:30至12:00(校外委託13:30至17:00(B執照者)(A執照者)
週四08:30至12:00(校外委託)13:30至17:00(B執照者)(A執照者)
週五08:30至12:00(校外委託)13:30至17:00(B執照者)(A執照者)
週六08:30至12:00(A執照者)13:30至17:00(B執照者)(A執照者)
週日08:30至12:00(A執照者)13:30至17:00(B執照者)(A執照者)

系統開放等級
A級:可預約時間自行操作。博士班學生並通過JEOL2000FX考核者可申請接受訓練,通過執照考核後取得A級資格。
D級:委託服務,由技術員操作。委託時段請參閱”開放時間表”

系統開放等級說明

收費標準

項目計畫預約非計畫預約
TEM*委託操作:1000 元/時
(基本費用以 3000元計算)
*自行操作:250 元/時
*拍照:15 元/張
*EDS:75 元/點、100 元/線、150 元/面
*委託操作:18,000 元
*拍照:150 元/張
*EDS:150 元/點、200 元/線、300 元/面 

管理辦法及使用辦法

  1. 本實驗室非TEM試片製作單位,請先準備可觀察之TEM試片來進行實驗。試片需自行準備,直徑為3mm且厚度小於300nm。
  2. 待測樣品應為固態材料且應具有適當、足夠的機械強度,以避免在進出電鏡或在檢測的操作過程中,發生剝落、碎裂的狀況,恕不受理。
  3. 低熔點的材料如銦、錫等,會產生相變及蒸鍍效應,恕不受理。
  4. 在電子束照射下會分解或釋出氣體且礙及真空之樣品,如有機物、高分子、生物性或鐵磁性粉末樣品等,恕不受理。
  5. 具強磁性、磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末形式樣品或材料,如鐵、鈷、鎳…等粉體,恕不受理。
  6. 具有放射性或毒性之樣品,恕不受理。
  7. 所有以水溶液滴到銅網上樣品,皆需要經過充分乾燥除去水氣;樣品送到本實驗室後,仍需經過本實驗室人員再次烘烤十分鐘後才可以上機。若因試片充滿水氣而造成機台汙染,則預約單位需要共同負擔機台維修費用。

申訴電話與信箱

徐忠璇小姐
TEL:(03) 571-2121 #31534、#31248,(03) 5131534
E-mail:jsshiu1207@nycu.edu.tw

賴卓君小姐
TEL:(03) 571-2121 #31775,(03) 5731775
E-mail:cclai0225@nycu.edu.tw

中心專線電話:(03) 6116690

本文最後更新於 2022 年 11 月 16 日

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