國科會基礎研究核心設施
材料領域 Material Field
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡暨電子背向散射繞射儀 JEOL JSM-7800F PrimeSEM
高解析場發射掃描式電子顯微鏡
廠牌型號：JEOL JSM-7800F PRIME+ EDS Oxford MAX150 and EBSD NordlysMax3
儀器位置：工程六館211室
儀器專家：吳樸偉 教授
分機:31227
X光光電子暨歐傑電子能譜儀（XPS/AES）
X光光電子暨歐傑電子能譜儀（XPS/AES）
工程六館215室
儀器專家：徐雍鎣 教授
分機:55317
技術員：黃綉吟 小姐
技術員分機：55358(O)、55339(L)
場發射穿透式電子顯微鏡 FE-TEM
EM001200
中文名稱：場發射穿透式電子顯微鏡
英文名稱：Field Emission Transmission Electron Microscope>
英文簡稱：FE-TEM
儀器位置：工程六館108室
儀器專家：吳文偉 教授 #55395
技術人員：歐大正 先生 #55371