電顯類彙整 | 國立陽明交通大學儀器資源中心

穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) JEM-2000EX II

#陽明校區，代管儀器，收費使用，JEM-2000EX II；使用資格請洽儀器負責人；管理單位：解剖所鄭瓊娟老師，管理人員：電顯室余玉英技士與何淑儷技士；儀器位置：實驗大樓2F B115室

#陽明校區，JEOL JSM-7600F，收費使用，使用資格請洽儀器負責人；管理單位：解剖所鄭瓊娟老師，管理人員：電顯室余玉英技士與何淑儷技士；儀器位置：實驗大樓2F B105室

#陽明校區，代管儀器，收費使用，JEM-1400plus；使用資格請洽儀器負責人；管理單位：解剖所鄭瓊娟老師，管理人員：電顯室余玉英技士與何淑儷技士；儀器位置：實驗大樓2F B104室

#交大校區，High-Resolution Scanning Electron Microscope & Energy Dispersive Spectrometer，依奈米中心管理使用辦法與預約系統，收費使用，儀器位置：電資大樓710室

#交大校區，Scanning electron microscope and E-beam lithography，收費使用，儀器位置：科學三館SC009室

#交大校區，E-beam inspection tool，僅開放委託操作，收費使用，儀器位置：科學三館 SC030 室

#交大校區，Field Emission Scanning Electron Microscope，
廠牌型號：JEOL, JSM-6700F
收費使用，儀器位置：工程六館103室

球面像差修正掃描穿透式電子顯微鏡
交大校區基礎科學教學研究大樓 (科學三館) SC022室
儀器專家：張立教授、周苡嘉教授
分機:31615、56159
技術員：高淳瑜小姐
技術員分機：56156

高解析場發射掃描式電子顯微鏡
廠牌型號：JEOL JSM-7800F PRIME+ EDS Oxford MAX150 and EBSD NordlysMax3
儀器位置：工程六館211室
儀器專家：吳樸偉教授
分機:31227

EM001200
中文名稱：場發射穿透式電子顯微鏡
英文名稱：Field Emission Transmission Electron Microscope>
英文簡稱：FE-TEM
儀器位置：工程六館108室
儀器專家：吳文偉教授 #55395
技術人員：歐大正先生 #55371